В рамках визита представители ведущего научно-производственного предприятия страны по созданию государственной системы обеспечения единства измерений в фотометрии, радиометрии оптического излучения, параметров импульсных электромагнитных полей рассказали гостям о том, как цифровизация влияет на современную метрологию.
С приветственным словом выступил директор ФГУП «ВНИИОФИ» А.С.Батурин. Заместитель директора по инновациям И.С.Филимонов представил слушателям программы MBA современные тренды развития метрологии на пути к цифровой метрологии.
Начальник научно-исследовательского отделения радиометрии, фотометрии, спектрофотометрии и колориметрии некогерентного излучения В.Р.Гаврилов рассказал о методах и средствах метрологического обеспечения оптико-электронной аппаратуры дистанционного зондирования земли (ДЗЗ).
Участники встречи обсудили законодательные инициативы и результаты прикладных работ в области цифровой метрологии, познакомились с примерами реализации цифровых подходов в метрологии.
Во время ознакомительной экскурсии по лабораториям, которую для гостей провели К.Ю.Сахаров, В.Р.Гаврилов, И.С.Королев и А.О.Еленский, слушатели программы MBA ознакомились с аппаратурой обеспечения безопасности работы цифровых устройств в условиях импульсных электромагнитных излучений, получили представление о космическом эталоне методов и средств метрологического обеспечения оптико-электронной аппаратуры дистанционного зондирования земли, изучили метрологию волоконно-оптических систем передачи, лазерных специальных и медицинских систем.
Мероприятие проходило в наноцентре в Москве и было организовано ФГУП «ВНИИОФИ» совместно с Московским физико-техническим институтом, отвечающим в MBA-программе за курсы специализации. Посещение наиболее успешных цифровых предприятий — важная часть учебного процесса, которая позволяет слушателям программы «Цифровая экономика» погружаться в рабочие пространства реальных компаний и на практике изучать современные подходы к цифровизации экономики, бизнеса и науки.